Ausschreibung Lieferleistung in München

Diamond-based microscope (EMFT-04) – PR878224-2270-P
1 Stück Diamond-based microscope Es wird ein Gerät zur Messung von Magnetfeldern mittels NV-Zentren in Diamant benötigt. Das Gerät soll ein Bild der von der Probe erzeugten Magnetfeldverteilung liefern (Weitfeldmessung). Durch diese neuartige Methode kann die Magnetfeldverteilung mit hoher Sensitivität, hoher räumlicher Auflösung, ohne kryogene Gase und ohne zeitraubendes Abrastern der Probe gemessen werden, was signifikante Vorteile gegenüber anderen Magnetfeld-Messmethoden (z.B. SQUID, Hall-Sonde) bietet. Das Gerät soll primär zur Untersuchung von Mikrochips verwendet werden. Durch die gemessene Magnetfeldverteilung können Stromflüsse in Mikrochips rekonstruiert werden. Der Haupt-Anwendungsbereich ist die Fehleranalyse, insbesondere von komplexen, mehrlagigen Chips und Chipstapeln. Zusätzliche Anwendungsbereiche gibt es u.A. im Bereich Trusted Electronics.